使用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,应依次将四块厚度差为（)螺距的平行平晶放入两测量面间,并调整平晶使其接触点在（)时读数。

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测量上限至100mm的千分尺两工作面的平行度只能用平行平晶进行检定，才能满足要求。（)

用平行平晶来检定杠杆式卡规，两测量面的平行度，检定所需平晶数的（)。
A、一块
B、二块
C、三块

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千分尺的两工作面，如果其中一个工作面与测量轴线垂直，那么两工作面的平行度用平行平晶检定时，所需平行平晶的块数为（)。
A、四块
B、一块
C、二块

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高度游标卡尺测量爪尺寸用（)检定,其测量面的平行度,可用分度值为（)的测微计进行检定。

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千分尺的平面度是用（)平面平晶进行检定的,它是根据（)原理,利用光波干涉法进行的。

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在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（)。
A、0.001mm
B、0.002mm
C、0.003mm

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若有一量具工作面的平面度为0.010mm，为了达到检定结果的准确起见，该工作面的平面度采用合适的检定方法为（)。
A、用刀口尺以光隙法检定
B、用平晶的技术光波干涉法检定
C、用刀口尺以量块比较法检定

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用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔的干涉条纹，则其平面度为（)。
A、0.9μm
B、0
C、1.8μm

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千分尺校对用的量杆，其两端平工作面的平行度符合要求，而长度尺寸超过了要求时，可按实际尺寸使用，其实际尺寸是（)。
A、一面上各点中的一点至另一面的最大垂直距离(即最大尺寸)
B、一面上各点中的一点至别一面的最小垂直距离(即最小尺寸)
C、一面上的中心点至另一面的垂直距离(即中心长度)

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在使用平晶时，如果用手触摸平晶时间过长，会使平晶平面度（)。
A、变凹
B、变凸
C、不变

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