更多“在白光情况下,用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时,受检工作面的平面度一般应不大于()。A、0.001mmB、0.002mmC、0……”相关的问题
第1题
用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。
A、球面干涉
B、等倾干涉
C、等厚干涉
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第2题
若有一量具工作面的平面度为0.010mm,为了达到检定结果的准确起见,该工作面的平面度采用合适的检定方法为()。
A、用刀口尺以光隙法检定
B、用平晶的技术光波干涉法检定
C、用刀口尺以量块比较法检定
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第3题
千分尺的平面度是用()平面平晶进行检定的,它是根据()原理,利用光波干涉法进行的。
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第4题
若用平晶检测被测件,测量面上的干涉条纹为园形时,其测量面的凹凸情况可以这样进行判定:在平晶中央加压,若干涉条纹向内跑,则说明测量面中间是()。
A、平
B、凸
C、凹
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第5题
用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。
A、球面干涉
B、等厚干涉
C、等倾干涉
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第6题
用光波干涉法测量表面粗糙度,是将工件表面的微观几何形状轮廓用()的曲折程表示出来,并以()进行度量的一种方法。
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第7题
千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。
A、四块
B、一块
C、二块
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第8题
用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔的干涉条纹,则其平面度为()。
A、0.9μm
B、0
C、1.8μm
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第9题
在使用平晶时,如果用手触摸平晶时间过长,会使平晶平面度()。
A、变凹
B、变凸
C、不变
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第10题
用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的()。
A、一块
B、二块
C、三块
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